第5代IGBT芯片技术详解
第5代IGBT芯片技术可谓是IGBT芯片技术的“春秋战国”,宣称是第5代的技术大致列于表 1,部分新品结构与PT/NPT的对比如图1所示。
名称 | 中文参考译名 | 开发者/隶属公司 | 主要改进 | |
缩写 | 全称 | |||
FS |
Field Stop |
场阑 |
Siemens或者Infineon |
N-基区厚度与NPT相比减少约30%,关断功耗降低,拖尾电流减小,最大结温提高 |
TS | Trench gate field Stop | 槽栅—场阑 | 饱和压降降低 | |
SPT | Soft Pmch Through | 软穿通 | Semikron ABB | 饱和压降降低 |
SPT+ | SPT plus | 超软穿通 | 电压等级提高 | |
CSTBT | Carrier Stored Trench Bipolar Transistor | 多子存贮槽栅双极性晶体管 | Mitsubishi |
电压等级提高,饱和压降很低,抗短路能力提高 |
LPT | Light Punch Through | 轻穿通 | LPT-CSTBT:抗短路能力进一步提高 | |
QPT | Quick Punch Through | 快穿通 | Fairchild | 开关速度提高 |
UTPT | Ultra Thin Punch Through | 弱穿通 | Toshiba | 电流密度明星提高,饱和压降和拖尾电流降低 |
HiGT | Trench High-ConductivityIGBT | 高导电率槽栅IGBT | Hitachi |
开态电压降低,电流密度提高 |
LiPT | Low Lnjection Punch-Through Structure | 少子PT-IGBT | 关断功耗降低 |
·所谓开态电压,指的是IGBT 饱和导通所需要的栅极—发射极电压的最小值或者典型值,通常认为该电压值是15V,这实际上是开态电压值的上限。不同产品的开态电压实际上是不一样的,但不会高于15V。
·所谓电场分布,就是芯片内部在工作电压条件下的电场分布情况,均匀分布的电场是比较有利的,矩形分布的电场最理想。PT型的电场分布还是比较理想的,后来的改进技术大都向这一电场分布模型靠拢。
FS、LPT 等一系列新技术因为技术开发和专利归属的不同,在具体技术、工艺细节上会有很多不同,但基本改进思路却不谋而合,即在PT的基础上生成一个低掺杂浓度的N+缓冲区充当高阻区,替代原本由集电区(P十)兼任高阻区的任务;集电区不再担当耐电压的高阻区,几乎只相当于衬底,厚度可以大幅度减薄。从图1来看,它们与PT最明显的区别就是集电区大幅度变薄了。
· FS (Field Stop)-般译为场终止、场截止、场中止等,笔者以为场阑更为贴切。阑既有“栏”(围栏)之意,又有“拦”(遮挡,阻止)之意,与对应的结构及技术措施的含义更为接近。场阑的作用就像一个“圈”,圈中的是电场,使电场到此为止,不至于继续向下穿通集电区。
对于FS结构而言,耗尽层在工作电压和击穿电压下都会穿通N-基区,穿通情况比较“重”;而对于LPT而言,耗尽层只有在击穿电压下才会穿通N-基区,而在工作电压下不会穿通N-基区,穿通情况比较“轻”,“轻穿通”的名称由此而来。SPT、QPT的情况与LPT类似。
·TS (Trench gate field Stop)是FS与槽栅技术的糅合,图1中的FS实际上是TS结构,纯粹的FS采用的是平面栅结构。Tnfineon 公司为自己的TS产品申请了“TS”(Trench Stop)商标,随着应用这一技术的制造商的增多,将来会不会称为TGFS也未可知。
· CSTBT是三菱公司的技术名称,其主要亮点是CS(Carrier Stored),基本方法是在靠近发射极的区域(源区,参见图2)用掩膜(Buried)工艺增加一个低掺杂浓度的N型区,用来暂时“存储”源区(发射区)浓度比较高的载流子,相当于给源区配置了一个载流子“仓库”。
如果用图3所示的简化电路来理解,相当于将等效电路中的二极管换成了PIN二极管。PIN二极管就是在P区与N区之间增加了一个掺杂浓度极低、接近纯半导体(Intrinsic semiconductor)的区域,从而大幅提高了开关速度和电压等级。
CSTBT的主要目的就是获得高电压等级、低 饱和压降的产品,糅合了LPT技术的CSTBT则兼具短开关时间的优势。
· Fairchild 公司2004 年 申请了一项名为QPT( US683132982)的专利,这是一种基于PT结构的高速IGBT,基本方法是设计一个窄并且掺杂浓度比较低的漂移区,使得耗尽层可以在较低的电压下穿透缓冲区。基于QPT的IGBT 关断特性比较接近VMOS,拖尾电 流比较小,硬开关工作频率可以达到lOOkHz左右,比较适合开关电源。据此,Fairchild提出了SMPS IGBT的概念,即用于开关电源的IGBT,现在已经发展到了SMPS II。
· HiGT与CSTBT的基本技术思路有些相似,只不过它不是为过剩的空穴建立“仓库”,而是提高电子的注入率,位置在靠近栅极的区域、P+源区的顶部。这样做的好处是,不但解决了源区空穴过剩的问题,同时也提高了通流能力,降低了电阻率。
· LiPT技术是为改善HiGT技术的关澎高磊硅罷而并发的,基于HiGT的产品一般为沟槽栅。LiPT的集电区改用P-材料,低掺杂浓度,这一思路和TPT处理集电区的方法相似。LiPT技术在沟槽上一样可以提高电流密度,但是对开关时间的影响要小得多,因此加入了LiPT的HiGT结构,没有必要非得采用沟槽栅,而可以采用成本低、速度高的平面栅。